高度な技術で社会に貢献する

「先端分析」には、新たな「社会」を切り拓く力がある

「世界一流の研究開発支援企業」を目指して
従来評価困難だった半導体配線界面の化学構造変化の直接可視化に成功 ～AFM-IRによりCu/Low-k絶縁膜界面のナノメートルスケール化学構造変化を解析～
高速光通信デバイスの性能低下要因をナノメートルスケールで解明する分析サービス開始　～近赤外発光と材料構造の相関解析により故障解析・性能向上を支援～
次世代ダイヤモンド半導体デバイス評価に関する共同研究を開始 ～ 材料理解の深化が切り拓く次世代パワー半導体の社会実装 ～

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